ARTRAY ：全譜成像 解鎖工業檢測新可能

工業檢測

在半導體製造中，可用於晶圓缺陷識別，如 ARTCAM-990SWIR 係列相機，支持電子製冷
，能高精度檢測矽晶圓表麵及內部缺陷。在光伏行業
，可用於太陽能電池 EL 發光檢測，利用其高靈敏度捕捉電池片的微弱發光，檢測內部缺陷。此外
，還可用於 PCB
、MEMS 等器件的檢測。

探測偵查

其短波紅外相機利用 SWIR 穿透煙霧

、薄霧的能力，可用於夜間目標探測，幫助偵察人員在惡劣環境下獲取清晰的目標圖像。

科學研究

適用於激光光束分析，可精確測量激光的光斑形狀、能量分布等參數。在材料光譜特性測量中，能通過對不同波長光的響應，分析材料的成分和結構。例如在前沿光學研究中
，ARTRAY 相機成為研究人員獲取高精度圖像和數據的重要工具。

顯微鏡成像

ARTRAY 的部分相機可作為顯微鏡相機
，搭配顯微鏡用於微觀物體的觀察和成像，幫助科研人員觀察細胞、微生物等微小結構。

食品檢測

通過近紅外相機的光譜分析功能，可進行食品的成分檢測、品質分級，以及食品包裝質檢

、異物檢測等。利用多波段協同檢測技術，同時捕捉物體表麵與內部信息

，提升檢測效率和準確性。

主營產品特點

ARTRAY 主營工業相機（含可見光 / 紫外 / 近紅外 / SWIR）、圖像采集轉換器、驅動與定製化軟硬件，核心優勢集中在寬光譜覆蓋、高靈敏度低噪聲、多接口兼容、模塊化設計與定製化能力，尤其在短波紅外（SWIR）與銦镓砷（InGaAs）成像領域技術領先，適配工業檢測
、科研等嚴苛場景。

產品顯著特點為：突破傳統紅外成像限製
，可穿透煙霧
、薄霧、矽片與樹脂，實現內部缺陷檢測、隱形標記識別

、材料光譜分析

，在半導體、光伏、食品檢測中優勢顯著。

通過傳感器選型

、製冷技術與電路設計，在低光 / 弱信號場景下（如激光光束分析、生物熒光成像）仍能輸出清晰圖像
，信噪比（SNR）表現優異。